\u00a0<\/b>2) \u00bfQue significa EDS, EDX y EDAX?<\/b><\/p>\n
EDS<\/span><\/i>:<\/b> Energy Dispersive Spectrometer, EDX:<\/span><\/i> Energy Dispersive X-Ray,<\/p>\n EDAX:<\/span><\/i> marca comercial del detector.<\/p>\n 3) \u00bfCon que detectores cuenta el equipo?<\/b><\/p>\n El microscopio electr\u00f3nico de barrido est\u00e1 equipado con un detector de electrones secundarios para obtener im\u00e1genes de alta resoluci\u00f3n SEI (Secundary Electron Image), un espectr\u00f3metro de electrones retrodispersados que permite la obtenci\u00f3n de im\u00e1genes de composici\u00f3n y topograf\u00eda de la superficie BEI (Backscattered Electron Image), y un detector de energ\u00eda dispersiva EDS ( Energy Dispersive Spectrometer) permite colectar los Rayos X generados por la muestra y realizar diversos an\u00e1lisis cualitativos, semicuantitativos, cuantitativos y de distribuci\u00f3n de elementos en superficies (mapping de rayos x).<\/b><\/p>\n 4) \u00bfCu\u00e1l es la m\u00e1xima magnificaci\u00f3n que alcanza?<\/b><\/p>\n La magnificaci\u00f3n m\u00e1xima del equipo es de aproximadamente de 100.000 X, siempre dependiendo del tipo de muestra y de su preparaci\u00f3n previa.<\/b><\/p>\n \u00a0<\/b>5) \u00bfCu\u00e1l es el m\u00e1ximo tama\u00f1o de la muestra que puede analizarse?<\/b><\/p>\n Se puede introducir una muestra cuyo di\u00e1metro sea de 5.5 cm.\u00a0 , una altura 5 cm y un peso m\u00e1ximo de 1 kg, sin inclinaci\u00f3n de la muestra. Estas ser\u00edan las dimensiones de la platina que soporta las muestras. Sobre la misma se pueden colocar 7 muestras simult\u00e1neamente ubicadas sobre portamuestras de 1 cm de di\u00e1metro.<\/b><\/p>\n 6) \u00bfQu\u00e9 muestras se pueden observar?<\/b><\/p>\n Se pueden observar diferentes tipos de muestras: org\u00e1nicas e inorg\u00e1nicas, hidratadas o libres de humedad, conductoras y no conductoras. Todo depende de la modalidad que se vaya a utilizar para trabajar.<\/p>\n Alto Vac\u00edo:<\/span><\/i> las muestras deben estar secas, ser conductoras, o no conductoras metalizadas.<\/p>\n Bajo Vac\u00edo:<\/span><\/i> muestras no conductoras\u00a0 sin necesidad de ser metalizadas, o tambi\u00e9n pueden ser deshidratadas en un\u00a0Secador por Punto Cr\u00edtico<\/a> , para luego ser montadas, metalizadas y observadas en alto vac\u00edo para mejor la resoluci\u00f3n.<\/p>\n Ambiental<\/span><\/i>:<\/span><\/i> muestras que necesitan mantener una determinada humedad relativa en la c\u00e1mara del microscopio.<\/p>\n Para mayor informaci\u00f3n ver la secci\u00f3n preparaci\u00f3n de muestras.<\/span><\/p>\n 7)<\/b> \u00bfC\u00f3mo se manipulan las muestras?<\/b><\/p>\n En el laboratorio las muestras se manipulan\u00a0 con guantes de l\u00e1tex\/nitrilo y pinzas para evitar dejar huellas sobre las mismas y perjudicar el an\u00e1lisis del EDS. Esto es debido a que la suciedad que queda en la superficie es quemada por el haz de electrones y puede ensuciar la c\u00e1mara del equipo. Es por esto que se solicita a los usuarios traer las muestras limpias, lavadas con agua destilada o solvente org\u00e1nico, preferentemente en lavadora ultras\u00f3nica.<\/b><\/p>\n 8) \u00bfCuando utilizar un metalizado con oro y cuando con carbono?<\/b><\/p>\n El equipo trabaja a un vac\u00edo aproximado de 10-6 Torr, por lo que las muestras no conductoras necesitan una cubierta conductora para evitar cargas el\u00e9ctricas y da\u00f1os por radiaci\u00f3n. El metalizado con oro es lo m\u00e1s frecuente ya que es un muy buen conductor de calor y electricidad. Se suele utilizar una cubierta de carbono fundamentalmente cuando se requiere hacer un an\u00e1lisis qu\u00edmico con rayos X. Sin embargo, esto no debe ser tomado como una norma, ya que hay situaciones particulares en d\u00f3nde se debe evaluar la conveniencia o no de una determinada cubierta.<\/p>\n 9) \u00bfA partir de que elemento se puede detectar usando el EDS?<\/b><\/p>\n El EDS permite detectar aquellos elementos que tengan un n\u00famero at\u00f3mico mayor a 6, es decir a partir del Boro.<\/p>\n 10) \u00bfQu\u00e9 concentraci\u00f3n debe tener la muestra para poder detectar un pico de un elemento en el EDS?<\/b><\/b><\/p>\n La muestra debe presentar como m\u00ednimo un 0,5 % wt del elemento para ser detectado.<\/p>\n 11) <\/b>\u00bfC\u00f3mo determinar la profundidad de penetraci\u00f3n de los electrones en la muestra?<\/b><\/p>\n El rango de los electrones R est\u00e1 definido como la distancia promedio total (medida desde la superficie de la muestra) que recorre un electr\u00f3n en la muestra a lo largo de su trayectoria. La distribuci\u00f3n espacial es el desparramo del haz de electrones lateralmente desde el centro de impacto.\u00a0 Hay varias formas de definir el rango del electr\u00f3n R.<\/p>\n La expresi\u00f3n de RKO (rango de Kanaya y Okayama) considera los efectos combinados de la dispersi\u00f3n el\u00e1stica e\u00a0\u00a0\u00a0 inel\u00e1stica y se puede utilizar para obtener una estimaci\u00f3n de la profundidad de penetraci\u00f3n de los electrones en diferentes materiales:<\/p>\n Donde E0<\/sub> : energ\u00eda del electr\u00f3n incidente (keV)<\/p>\n A: peso at\u00f3mico\u00a0 (g\/mol),<\/p>\n Z : n\u00famero at\u00f3mico<\/p>\n r: densidad de la muestra (g\/cm3<\/sup>)<\/p>\n Cuando la muestra est\u00e1 compuesta de m\u00e1s de un elemento se puede obtener el valor del n\u00famero at\u00f3mico promedio <Z> a partir de los n\u00fameros at\u00f3micos Zi<\/sub> y de los porcentajes en peso wi<\/sub> de los elementos presentes mediante la expresi\u00f3n:<\/p>\n < Z >=\u2211 wi <\/sub>Zi<\/sub><\/b><\/p>\n 12) <\/b>\u00bfQue diferencia existe entre trabajar con electrones secundarios y retrodispersados?<\/b><\/p>\n Una imagen originada por los\u00a0electrones retrodispersados\u00a0revela diferencias en el contraste por la composici\u00f3n qu\u00edmica, es decir proporciona m\u00e1s informaci\u00f3n sobre la composici\u00f3n qu\u00edmica del material analizado en distintos niveles de grises.\u00a0 En cambio una imagen obtenida con los\u00a0electrones secundarios brinda una excelente imagen de la topograf\u00eda o detalles supeficiales de la muestra, obteni\u00e9ndose una imagen de apariencia tridimensional de la misma.<\/p>\n 13) \u00bfC\u00f3mo se solicita un turno?<\/b><\/p>\n Los turnos s\u00f3lo se solicitan a trav\u00e9s de la p\u00e1gina web del sistema de gesti\u00f3n de turnos perteneciente al Sistema Nacional de Microscop\u00eda. En dicha p\u00e1gina se deber\u00e1 completar sin omitir ning\u00fan campo un formulario online que tiene por fin facilitar el intercambio de informaci\u00f3n entre el usuario y el SeMFi para optimizar el tiempo de uso del equipo. Para la generaci\u00f3n de un usuario nuevo, en la secci\u00f3n de solicitud de turnos, pueden resolverse las inquietudes m\u00e1s comunes relacionadas a este apartado.<\/p>\n 14) \u00bfC\u00f3mo se efect\u00faa el pago del servicio?<\/b><\/p>\n Los servicios ser\u00e1n abonados en Fundaci\u00f3n Facultad de Ingenier\u00eda seg\u00fan las siguientes formas de pago:<\/p>\n – Efectivo hasta $500<\/p>\n – Cheque a nombre de fundaci\u00f3n facultad de ingenier\u00eda<\/p>\n – Dep\u00f3sito o transferencia bancaria:<\/p>\n Banco naci\u00f3n:<\/p>\n Cta. cte 163005\/45<\/p>\n CBU 0110030320000163005456<\/p>\n Titular: Fundaci\u00f3n Facultad de Ingenier\u00eda<\/p>\n Cuit: 30-67798003-2<\/p>\n IVA: exento<\/p>\n La factura del servicio estar\u00e1 disponible en la Fundaci\u00f3n, sito en Calle 1 N\u00b0 732 e 46 y 47 La Plata en el horario de 8,00 a 15,00 hs., a partir de los 3 d\u00edas h\u00e1biles posteriores al turno.<\/p>\n Datos \u00fatiles de la Fundaci\u00f3n:<\/p>\n Direcci\u00f3n: Calle 1 N \u00ba732 e\/46 y 47 La Plata (1900)<\/p>\n TE\/FAX: (0221) 482-6165\/425-6263<\/p>\n Mail: acufunfi@ing.unlp.edu.ar<\/p>\n Luego del turno, el usuario recibir\u00e1 un talonario instructivo para el pago del servicio. El usuario obtendr\u00e1 un n\u00famero de servicio y deber\u00e1 acudir con dicha informaci\u00f3n a Fundaci\u00f3n Facultad de Ingenier\u00eda.<\/p>\n Una vez que el usuario haya realizado el pago, Fundaci\u00f3n Facultad de Ingenier\u00eda le generar\u00e1 un recibo comprobante del mismo. Con dicho recibo el usuario deber\u00e1 presentarse en el LIMF para retirar los resultados en el horario de 8 a 12 hs.<\/p>\n De generarse la transferencia o dep\u00f3sito del monto del servicio, el detalle de dicha transferencia o dep\u00f3sito deber\u00e1 poseer la siguiente leyenda:<\/p>\n \u201cPago Servicio de Microscop\u00eda Electr\u00f3nica Nro: \u2026\u2026\u2026\u2026 – (Centro de costos 18) \u2013 titular de facturaci\u00f3n (Sr\/es: \u2026\u2026\u2026\u2026\u2026..) – Fact. Nro[1]<\/b><\/a>: \u2026\u2026\u2026\u2026\u2026..\u201d.<\/i><\/p>\n [1]<\/a> Hasta tanto el usuario no disponga del n\u00famero de factura podr\u00e1 dejar este campo vac\u00edo,\u00a0 no obstante es recomendable que antes de dirigirse a fundaci\u00f3n facultad de ingenier\u00eda para realizar el pago consulte el n\u00famero de factura correspondiente escribiendo a esem.limf@ing.unlp.edu.ar<\/a>.<\/p>\n<\/div>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":" 1) \u00bfQu\u00e9 significa MEB, SEM y ESEM? MEB: Microscopio Electr\u00f3nico de Barrido,\u00a0SEM: Scanning Electron Microscopy, ESEM: Environmental Scanning Electr\u00f3n Microscopy. \u00a02) \u00bfQue significa EDS, EDX y EDAX? EDS: Energy Dispersive Spectrometer, EDX: Energy Dispersive X-Ray, EDAX: marca comercial del detector. 3) \u00bfCon que detectores cuenta el equipo? El microscopio electr\u00f3nico \u2026 Continuar leyendo<\/a><\/p>\n","protected":false},"author":1,"featured_media":0,"parent":0,"menu_order":0,"comment_status":"closed","ping_status":"open","template":"","meta":[],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/limf.ing.unlp.edu.ar\/index.php?rest_route=\/wp\/v2\/pages\/289"}],"collection":[{"href":"https:\/\/limf.ing.unlp.edu.ar\/index.php?rest_route=\/wp\/v2\/pages"}],"about":[{"href":"https:\/\/limf.ing.unlp.edu.ar\/index.php?rest_route=\/wp\/v2\/types\/page"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/limf.ing.unlp.edu.ar\/index.php?rest_route=\/wp\/v2\/users\/1"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/limf.ing.unlp.edu.ar\/index.php?rest_route=%2Fwp%2Fv2%2Fcomments&post=289"}],"version-history":[{"count":4,"href":"https:\/\/limf.ing.unlp.edu.ar\/index.php?rest_route=\/wp\/v2\/pages\/289\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":332,"href":"https:\/\/limf.ing.unlp.edu.ar\/index.php?rest_route=\/wp\/v2\/pages\/289\/revisions\/332"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/limf.ing.unlp.edu.ar\/index.php?rest_route=%2Fwp%2Fv2%2Fmedia&parent=289"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}![\"formula\"](\"http:\/\/labmem.unsl.edu.ar\/Otros\/secador%20por%20punto%20critico.jpg\")
<\/p>\n
\n