{"id":269,"date":"2014-03-31T22:23:40","date_gmt":"2014-03-31T22:23:40","guid":{"rendered":"http:\/\/lab.ing.unlp.edu.ar\/limf\/?page_id=269"},"modified":"2014-05-08T16:51:13","modified_gmt":"2014-05-08T16:51:13","slug":"equipamiento-y-especificaciones-tecnicas","status":"publish","type":"page","link":"https:\/\/limf.ing.unlp.edu.ar\/?page_id=269","title":{"rendered":"Equipamiento y especificaciones t\u00e9cnicas"},"content":{"rendered":"<p style=\"text-align: left;\" align=\"center\">Microscopio electr\u00f3nico de barrido ambiental (ESEM) |\u00a0Modelo FEI ESEM Quanta 200<\/p>\n<p style=\"text-align: left;\" align=\"center\">Capacidad anal\u00edtica a trav\u00e9s de un sistema dispersivo en energ\u00edas (EDS)<\/p>\n<p style=\"text-align: left;\" align=\"center\">\u00a0<img loading=\"lazy\" class=\"alignnone size-full wp-image-320\" alt=\"image001\" src=\"http:\/\/lab.ing.unlp.edu.ar\/limf\/wp-content\/uploads\/2014\/03\/image001.png\" width=\"532\" height=\"711\" srcset=\"https:\/\/limf.ing.unlp.edu.ar\/wp-content\/uploads\/2014\/03\/image001.png 532w, https:\/\/limf.ing.unlp.edu.ar\/wp-content\/uploads\/2014\/03\/image001-224x300.png 224w, https:\/\/limf.ing.unlp.edu.ar\/wp-content\/uploads\/2014\/03\/image001-112x150.png 112w\" sizes=\"(max-width: 532px) 100vw, 532px\" \/><\/p>\n<h2>Caracter\u00edsticas t\u00e9cnicas:<\/h2>\n<ul style=\"text-align: left;\">\n<li><strong>Fuente de electrones:<\/strong>\n<ul>\n<li>Filamento de tungsteno.<\/li>\n<\/ul>\n<\/li>\n<li><strong>Voltaje de aceleraci\u00f3n:<\/strong>\n<ul>\n<li>200 V \u2013 30 kV.<\/li>\n<\/ul>\n<\/li>\n<li><strong>Modos de trabajo:<\/strong>\n<ul>\n<li>Alto Vac\u00edo (HiVac): Presiones &lt;10<sup>-6 <\/sup>Torr (Muestras conductoras o no conductoras metalizadas)<\/li>\n<li>Bajo Vac\u00edo (LoVac): Presiones entre 0,1 a 1 Torr (Muestras no conductoras sin metalizado)<\/li>\n<li>Modo ambiental (ESEM): Presiones entre 0,1 a 17 Torr (Muestras que necesitan mantener una humedad relativa y presiones elevadas en la c\u00e1mara del microscopio)<\/li>\n<\/ul>\n<\/li>\n<\/ul>\n<ul style=\"text-align: left;\">\n<li><strong>Detectores<\/strong>\n<ul>\n<li>\u00a0Electrones Secundarios tipo Everhart-Thornley (alto vac\u00edo): este detector ofrece una imagen de contraste topogr\u00e1fico para la superficie examinada. Ofrece la se\u00f1al de mayor resoluci\u00f3n y profundidad de foco.<\/li>\n<li>Electrones Retrodispersados de dos sectores. BSED (alto y bajo vac\u00edo): Su ventaja consiste en que es\u00a0sensible\u00a0a las variaciones en el n\u00famero at\u00f3mico de los elementos presentes en la superficie. Si tenemos una superficie totalmente lisa observaremos distintos tonos de gris en funci\u00f3n de que existan varias fases con distintos elementos.<\/li>\n<li>Electrones Secundario LFD (bajo vac\u00edo): cumple el mismo rol que el Everhart-Thornley en la condici\u00f3n de bajo vac\u00edo.<\/li>\n<li>Electrones Secundarios GSED (modo ESEM): cumple el mismo rol que el Everhart-Thornley en la condici\u00f3n de modo ambiental.<\/li>\n<li>\u00a0Electrones transmitidos (STEM) (alto y bajo vac\u00edo y ambiental): permite la detecci\u00f3n de electrones transmitidos a trav\u00e9s del espesor de la muestra.<\/li>\n<\/ul>\n<\/li>\n<li><strong>Microan\u00e1lisis por sonda de electrones:<\/strong><\/li>\n<\/ul>\n<p><img loading=\"lazy\" class=\"alignnone size-full wp-image-321\" alt=\"image004\" src=\"http:\/\/lab.ing.unlp.edu.ar\/limf\/wp-content\/uploads\/2014\/03\/image004.gif\" width=\"483\" height=\"178\" \/><\/p>\n<ul style=\"font-size: medium;\">\n<ul>\n<li>Tipo: Espectr\u00f3metro de rayos X dispersivo en energ\u00edas.<\/li>\n<li>Modelo: EDAX SDD Apollo 40.<\/li>\n<li>Detecci\u00f3n de elementos ligeros a partir del Boro.<\/li>\n<li>Resoluci\u00f3n &lt;135 eV.<\/li>\n<li>Linescans y mappings elementales.<\/li>\n<li>Capacidad de an\u00e1lisis: cualitativa, semi-cuantitativa y cuantitativa con patrones.<\/li>\n<\/ul>\n<\/ul>\n<ul style=\"text-align: left;\">\n<li><strong>Platina Peltier:<\/strong> Permite caracterizar el comportamiento de muestras en ambientes h\u00famedos en modo ESEM modificando la temperatura y observando in situ las transformaciones que ocurren.<\/li>\n<li><strong>Formatos de Imagen y video:<\/strong> TIFF (8, 16 \u00f3 24 bits), jpg, bmp. (Max: 4096&#215;3536 pixels). Grabaci\u00f3n de Video digital (.avi)<\/li>\n<li><strong>Aplicaciones<\/strong>\n<ul>\n<li>Los diferentes modos de vac\u00edo permiten trabajar sin la limitaci\u00f3n existente para los materiales no conductores o de baja conductividad el\u00e9ctrica y sin necesidad de complicadas preparaciones previas. Con el m\u00f3dulo Peltier de enfriamiento es posible \u00a0modificar la temperatura y humedad relativa de la c\u00e1mara permitiendo la realizaci\u00f3n de experimentos con muestras o atm\u00f3sferas h\u00famedas as\u00ed como determinados experimentos din\u00e1micos.<\/li>\n<li>Microan\u00e1lisis elemental: Permite conocer los elementos qu\u00edmicos presentes en diferentes regiones de una muestra con vol\u00famenes de interacci\u00f3n de hasta un micr\u00f3metro c\u00fabico dependiendo de la densidad y n\u00famero at\u00f3mico medio de la muestra. Es posible, obtener un an\u00e1lisis semi-cuantitativo y en algunos casos (dependiendo topograf\u00eda de la muestra) cuantificarlos con el uso de patrones. Tambi\u00e9n permite ver la distribuci\u00f3n de un elemento sobre la muestra mediante mappings composicionales y l\u00edneas de scanning.<\/li>\n<li>Amplio rango de materiales: Cer\u00e1micos, met\u00e1licos, semiconductores, pol\u00edmeros, biol\u00f3gicos, histol\u00f3gicos, etc.<\/li>\n<li>Los campos de aplicaci\u00f3n abarcan:\n<ul>\n<li>Ciencia, ingenier\u00eda y tecnolog\u00eda de materiales.<\/li>\n<li>Ciencias geol\u00f3gicas<\/li>\n<li>Ciencias e ingenier\u00eda en alimentos<\/li>\n<li>Ciencias naturales, agrarias y forestales<\/li>\n<li>Ciencias e ingenier\u00eda qu\u00edmica y petroqu\u00edmica<\/li>\n<li>Biotecnolog\u00eda<\/li>\n<li>Farmac\u00e9utica<\/li>\n<li>Paleontolog\u00eda, arqueolog\u00eda y antropolog\u00eda<\/li>\n<li>Control de calidad, an\u00e1lisis de fallas<\/li>\n<li>Nanociencia y nanotecnolog\u00eda<\/li>\n<li>Ciencias de la salud<\/li>\n<\/ul>\n<\/li>\n<\/ul>\n<\/li>\n<\/ul>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>Microscopio electr\u00f3nico de barrido ambiental (ESEM) |\u00a0Modelo FEI ESEM Quanta 200 Capacidad anal\u00edtica a trav\u00e9s de un sistema dispersivo en energ\u00edas (EDS) \u00a0 Caracter\u00edsticas t\u00e9cnicas: Fuente de electrones: Filamento de tungsteno. Voltaje de aceleraci\u00f3n: 200 V \u2013 30 kV. Modos de trabajo: Alto Vac\u00edo (HiVac): Presiones &lt;10-6 Torr (Muestras conductoras \u2026 <a class=\"continue-reading-link\" href=\"https:\/\/limf.ing.unlp.edu.ar\/?page_id=269\">Continuar leyendo<\/a><\/p>\n","protected":false},"author":1,"featured_media":0,"parent":0,"menu_order":0,"comment_status":"closed","ping_status":"open","template":"","meta":[],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/limf.ing.unlp.edu.ar\/index.php?rest_route=\/wp\/v2\/pages\/269"}],"collection":[{"href":"https:\/\/limf.ing.unlp.edu.ar\/index.php?rest_route=\/wp\/v2\/pages"}],"about":[{"href":"https:\/\/limf.ing.unlp.edu.ar\/index.php?rest_route=\/wp\/v2\/types\/page"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/limf.ing.unlp.edu.ar\/index.php?rest_route=\/wp\/v2\/users\/1"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/limf.ing.unlp.edu.ar\/index.php?rest_route=%2Fwp%2Fv2%2Fcomments&post=269"}],"version-history":[{"count":6,"href":"https:\/\/limf.ing.unlp.edu.ar\/index.php?rest_route=\/wp\/v2\/pages\/269\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":325,"href":"https:\/\/limf.ing.unlp.edu.ar\/index.php?rest_route=\/wp\/v2\/pages\/269\/revisions\/325"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/limf.ing.unlp.edu.ar\/index.php?rest_route=%2Fwp%2Fv2%2Fmedia&parent=269"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}