Equipamiento y especificaciones técnicas

Microscopio electrónico de barrido ambiental (ESEM) | Modelo FEI ESEM Quanta 200

Capacidad analítica a través de un sistema dispersivo en energías (EDS)

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Características técnicas:

  • Fuente de electrones:
    • Filamento de tungsteno.
  • Voltaje de aceleración:
    • 200 V – 30 kV.
  • Modos de trabajo:
    • Alto Vacío (HiVac): Presiones <10-6 Torr (Muestras conductoras o no conductoras metalizadas)
    • Bajo Vacío (LoVac): Presiones entre 0,1 a 1 Torr (Muestras no conductoras sin metalizado)
    • Modo ambiental (ESEM): Presiones entre 0,1 a 17 Torr (Muestras que necesitan mantener una humedad relativa y presiones elevadas en la cámara del microscopio)
  • Detectores
    •  Electrones Secundarios tipo Everhart-Thornley (alto vacío): este detector ofrece una imagen de contraste topográfico para la superficie examinada. Ofrece la señal de mayor resolución y profundidad de foco.
    • Electrones Retrodispersados de dos sectores. BSED (alto y bajo vacío): Su ventaja consiste en que es sensible a las variaciones en el número atómico de los elementos presentes en la superficie. Si tenemos una superficie totalmente lisa observaremos distintos tonos de gris en función de que existan varias fases con distintos elementos.
    • Electrones Secundario LFD (bajo vacío): cumple el mismo rol que el Everhart-Thornley en la condición de bajo vacío.
    • Electrones Secundarios GSED (modo ESEM): cumple el mismo rol que el Everhart-Thornley en la condición de modo ambiental.
    •  Electrones transmitidos (STEM) (alto y bajo vacío y ambiental): permite la detección de electrones transmitidos a través del espesor de la muestra.
  • Microanálisis por sonda de electrones:

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    • Tipo: Espectrómetro de rayos X dispersivo en energías.
    • Modelo: EDAX SDD Apollo 40.
    • Detección de elementos ligeros a partir del Boro.
    • Resolución <135 eV.
    • Linescans y mappings elementales.
    • Capacidad de análisis: cualitativa, semi-cuantitativa y cuantitativa con patrones.
  • Platina Peltier: Permite caracterizar el comportamiento de muestras en ambientes húmedos en modo ESEM modificando la temperatura y observando in situ las transformaciones que ocurren.
  • Formatos de Imagen y video: TIFF (8, 16 ó 24 bits), jpg, bmp. (Max: 4096×3536 pixels). Grabación de Video digital (.avi)
  • Aplicaciones
    • Los diferentes modos de vacío permiten trabajar sin la limitación existente para los materiales no conductores o de baja conductividad eléctrica y sin necesidad de complicadas preparaciones previas. Con el módulo Peltier de enfriamiento es posible  modificar la temperatura y humedad relativa de la cámara permitiendo la realización de experimentos con muestras o atmósferas húmedas así como determinados experimentos dinámicos.
    • Microanálisis elemental: Permite conocer los elementos químicos presentes en diferentes regiones de una muestra con volúmenes de interacción de hasta un micrómetro cúbico dependiendo de la densidad y número atómico medio de la muestra. Es posible, obtener un análisis semi-cuantitativo y en algunos casos (dependiendo topografía de la muestra) cuantificarlos con el uso de patrones. También permite ver la distribución de un elemento sobre la muestra mediante mappings composicionales y líneas de scanning.
    • Amplio rango de materiales: Cerámicos, metálicos, semiconductores, polímeros, biológicos, histológicos, etc.
    • Los campos de aplicación abarcan:
      • Ciencia, ingeniería y tecnología de materiales.
      • Ciencias geológicas
      • Ciencias e ingeniería en alimentos
      • Ciencias naturales, agrarias y forestales
      • Ciencias e ingeniería química y petroquímica
      • Biotecnología
      • Farmacéutica
      • Paleontología, arqueología y antropología
      • Control de calidad, análisis de fallas
      • Nanociencia y nanotecnología
      • Ciencias de la salud

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